磁性材料ICP光譜儀具采用等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測(cè)時(shí)尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，有高靈敏度、高精度以及波長(zhǎng)范圍寬等特性，在ICP-OES領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用，可分析包括ppm級(jí)鹵素在內(nèi)的73個(gè)金屬和非金屬元素。
一、定量測(cè)量
在做定量測(cè)量前，必須先做分析線的定義。在Method的Line Definition窗口中，點(diǎn)擊Method/Analysis/Single Measurements測(cè)量一個(gè)高濃度的標(biāo)樣后，確定分析線的峰高、背景、積分范圍等相關(guān)定量參數(shù)?；蛘{(diào)入已保存的光譜圖定義以上參數(shù)。
然后點(diǎn)擊工作站左邊工具箱中的Analysis按鈕進(jìn)入分析測(cè)量窗口。如果是用自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)樣，在自動(dòng)進(jìn)樣器窗口中點(diǎn)擊F5，按自動(dòng)進(jìn)樣器的編輯方法進(jìn)樣。若要停止進(jìn)樣，點(diǎn)擊Esc。以上操作可點(diǎn)擊工具欄上相應(yīng)的快捷鍵。以下是手動(dòng)進(jìn)樣的操作過程說明。
把吸樣管放入要測(cè)的標(biāo)樣中，點(diǎn)擊Analysis/Method Measurements，選擇要測(cè)的標(biāo)樣名，點(diǎn)擊Measure，測(cè)量完成后，點(diǎn)擊Analysis/Sample Finish。然后按順序測(cè)完標(biāo)準(zhǔn)系列，再點(diǎn)擊Calculate，回到Method窗口，得到工作曲線。如果不能得到工作曲線，是由于軟件計(jì)算出的工作曲線的相關(guān)系數(shù)小于設(shè)定值。
把吸樣管放入要測(cè)的樣品中，若測(cè)量一次點(diǎn)擊Analysis/Single Measurements，若測(cè)量多次點(diǎn)擊Analysis/Multiple Measurements，測(cè)量完成后，點(diǎn)擊Analysis/Sample Finish。
二、定性測(cè)量
點(diǎn)擊工作站左邊工具箱中的Method按鈕，編輯一個(gè)要定性元素(或全譜定性)的方法，然后點(diǎn)擊spectra按鈕進(jìn)入光譜測(cè)量窗口。把進(jìn)樣管放入要檢測(cè)的樣品中，點(diǎn)擊spectra/Single Measurements，輸入要檢測(cè)的樣品名稱，測(cè)量完成后，點(diǎn)擊spectra/Sample Finish。一般要測(cè)定樣品空白和樣品的光譜圖，然后作比較。
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